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拓扑与电路 DC-DC变换器 宽禁带半导体 功率模块 ★ 3.0

通过补偿传播延迟实现多兆赫兹开关应用的自同步E类谐振整流器

Self-Synchronized Class E Resonant Rectifier by Compensating Propagation Delay for Multi-MHz Switching Applications

Minki Kim · Jungwon Choi · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年11月

本文提出了一种自同步高频E类谐振整流器,旨在补偿因传播延迟导致的同步信号失配问题。通过使用MOSFET等有源器件替代二极管进行同步整流,可有效提升功率转换系统的效率。即使在采用MOSFET的情况下,产生精确的同步信号仍具有挑战性,本文针对该问题进行了优化。

解读: 该技术聚焦于兆赫兹(MHz)级高频功率变换,对于阳光电源而言,其核心价值在于提升功率密度和减小磁性元件体积。在户用光伏逆变器及小型化充电桩产品线中,若能通过该技术实现高频高效整流,将显著降低系统体积与散热成本。建议研发团队关注该拓扑在宽禁带半导体(如GaN)应用中的表现,评估其在下一代高功率密度轻量...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

基于门极脉冲的SiC MOSFET器件在线温度测量方法

Online Temperature Measurement Method for SiC MOSFET Device Based on Gate Pulse

Xianwei Meng · Meng Zhang · Shiwei Feng · Yidan Tang 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年4月

本文提出了一种基于SiC MOSFET漏源电流(Ids)与器件温度线性关系的在线测温新方法。通过研究SiC MOSFET转移特性曲线的温度敏感性,实现了在不增加额外硬件电路的情况下,利用门极脉冲信号对功率器件进行实时温度监测,为提升功率模块的运行可靠性提供了技术支撑。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有极高的应用价值。随着SiC器件在组串式光伏逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器中的大规模应用,精确的结温监测是实现器件寿命预测与主动热管理的关键。该方法无需额外硬件,可直接集成于iSolarCloud智能运维平台,通过实时监控SiC模块热状态,...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

并联SiC MOSFET不平衡开关电流与损耗的定量分析模型

A Quantitative Analytical Model of Paralleled SiC MOSFETs for Calculating Unbalanced Switching Currents and Energy

Jianwei Lv · Cai Chen · Yiyang Yan · Baihan Liu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年12月

并联SiC MOSFET间的不均匀动态电流会导致开关损耗失衡,影响电路可靠性。本文提出了一种定量评估并联SiC MOSFET开关过程中动态电流不平衡的分析模型,旨在解决现有建模方法在精度与计算复杂度方面的挑战,为电力电子电路的设计与应用提供理论支撑。

解读: 该研究直接服务于阳光电源的高功率密度产品设计。在PowerTitan储能系统及大功率组串式/集中式光伏逆变器中,SiC MOSFET的并联应用是提升效率和减小体积的关键。该定量模型能够帮助研发团队在设计阶段精确评估电流不平衡带来的热应力分布,优化驱动电路布局与参数匹配,从而提升功率模块在极端工况下的...

功率器件技术 三电平 三相逆变器 功率模块 ★ 5.0

电压源三电平变换器中的超结MOSFET:动态行为与开关损耗的实验研究

Superjunction MOSFETs in Voltage-Source Three-Level Converters: Experimental Investigation of Dynamic Behavior and Switching Losses

Xibo Yuan · Niall Oswald · Philip Mellor · IEEE Transactions on Power Electronics · 2015年12月

本文通过实验测量,研究了混合技术(硅MOSFET、硅超结MOSFET与碳化硅二极管)三电平中点钳位(NPC)变换器中MOSFET的开关行为与损耗。超结MOSFET凭借低导通电阻和快速开关特性,在实现三相电压源变换器的高效率与高开关频率运行方面具有显著潜力。

解读: 该研究对阳光电源的组串式光伏逆变器及PowerStack储能系统具有重要参考价值。随着功率密度要求的提升,三电平拓扑已成为主流。超结MOSFET与SiC二极管的混合应用方案,可在不显著增加成本的前提下,有效降低开关损耗并提升系统效率。建议研发团队在下一代高频化逆变器设计中,重点评估超结MOSFET在...

拓扑与电路 SiC器件 三电平 宽禁带半导体 ★ 5.0

采用准两电平运行方式减小钳位二极管体积的SiC三电平中点钳位变换器

SiC Three-Level Neutral-Point-Clamped Converter With Clamping Diode Volume Reduction Using Quasi-Two-Level Operation

Xiang Lin · Dong Dong · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年8月

中压SiC MOSFET在固态变压器和多电平变换器领域备受关注。本文提出一种准两电平运行方式,旨在优化三电平中点钳位(NPC)变换器中钳位二极管的体积。通过该方法,可有效简化高压应用中的电压平衡问题,提升功率密度,为高频、高功率密度变换器设计提供新思路。

解读: 该技术对阳光电源的组串式逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)具有重要参考价值。随着光伏和储能系统向更高电压等级(如1500V及以上)和更高功率密度演进,SiC器件的应用已成为提升效率的关键。准两电平运行方式能有效降低钳位二极管的损耗与体积,有助于进一步缩小逆变器和PCS的体积,提升系统...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 PWM控制 ★ 5.0

光触发自适应零电压开关

Optically Triggered Self-Adaptive Zero Voltage Switching

Borong Hu · Yunlei Jiang · Luke Shillaber · Hengyu Wang 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年9月

零电压开关(ZVS)能提升电力电子效率,但受功率半导体非线性寄生电容及负载电流变化影响,实现难度较大。本文提出一种利用SiC MOSFET本征电致发光(EL)特性的自适应ZVS方法,通过在每个开关周期自动调节开关频率,实现最优ZVS控制。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有重要价值。在组串式光伏逆变器和PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)中,SiC器件已成为提升功率密度和效率的关键。利用SiC本征电致发光实现自适应ZVS,可有效降低开关损耗,解决宽禁带器件在复杂工况下的软开关控制难题。建议研发团队关注该传感机制...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

一种用于高压SiC MOSFET的自适应电流源栅极驱动器

An Adaptive Current-Source Gate Driver for High-Voltage SiC mosfets

Gard Lyng Rodal · Dimosthenis Peftitsis · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年2月

本文提出了一种具有自适应功能的新型SiC MOSFET电流源栅极驱动器。该驱动器旨在解耦并改善di/dt和dv/dt的可控性,同时相较于传统的图腾柱电压源驱动器,显著降低了开关延迟时间。

解读: 随着阳光电源在组串式光伏逆变器和PowerTitan系列储能系统中大规模应用高压SiC MOSFET,开关损耗与电磁干扰(EMI)的平衡成为提升功率密度的关键。该自适应驱动技术能有效优化SiC器件的开关轨迹,在保证高效率的同时抑制电压尖峰,对提升逆变器及PCS产品的功率密度和可靠性具有重要参考价值。...

可靠性与测试 可靠性分析 功率模块 宽禁带半导体 ★ 5.0

一种基于偏置温度不稳定性

BTI)的功率MOSFET退化路径依赖性识别方法

Xuerong Ye · Qisen Sun · Ruyue Zhang · Yifan Hu 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

偏置温度不稳定性(BTI)是导致功率MOSFET关键运行参数退化的主要可靠性问题。准确识别退化的路径依赖性对于量化任务剖面下的累积退化至关重要,该研究旨在确定应力交互作用对器件退化的具体影响机制。

解读: 该研究直接关系到阳光电源核心产品(如组串式/集中式逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统)中功率模块的长期可靠性。随着产品向高功率密度和宽禁带半导体(SiC/GaN)应用演进,BTI效应导致的退化评估变得尤为关键。该方法可集成至iSolarCloud智能运维平台,通过对MOSFE...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

用于并联SiC MOSFET动态电流精确测量的增强型di/dt-RC传感结构

Enhanced di/dt-RC Sensing Structure for Accurate Dynamic Current Measurement in Paralleled SiC MOSFETs

Che-Wei Chang · Dong Dong · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年7月

并联SiC MOSFET是提升大功率应用电流能力的经济方案,但动态电流不平衡会导致损耗分布不均及热失效风险。本文提出一种增强型di/dt-RC传感结构,旨在实现对高di/dt动态电流的精确监测,从而为并联器件的电流均衡与保护提供技术支撑。

解读: 该技术对阳光电源的高功率密度产品线(如PowerTitan储能系统、组串式光伏逆变器及风电变流器)具有重要意义。随着公司产品向更高功率等级和SiC技术路线演进,并联SiC MOSFET的应用日益广泛。该传感结构能有效解决并联器件间的动态电流不平衡问题,提升功率模块的可靠性与热管理水平。建议研发团队关...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

SiO2/Al2O3栅介质SiC沟槽MOSFET中载流子各向异性输运研究

Anisotropic Carrier Transport in SiC Trench MOSFETs With SiO2/Al2O3 Gate Dielectrics

Jinyi Xu · Zhanwei Shen · Xuan Tang · Yu Huang 等7人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年12月 · Vol.73

本文实验揭示了低温沉积Al2O3栅介质SiC沟槽MOSFET中晶面取向依赖的载流子输运各向异性:(1̄100)侧壁沟道迁移率达31.6 cm²/V·s,比(11̄20)面高41%,击穿场强高4%;(1̄100)面更有效抑制Al/O扩散,提升SiC/介质界面质量。

解读: 该研究对阳光电源组串式逆变器、ST系列PCS及PowerTitan储能系统所用SiC功率模块的可靠性与效率提升具直接价值。优化(1̄100)晶面沟槽结构可降低导通损耗、提升高温高频工况下器件鲁棒性。建议在下一代SiC功率模块封装设计中协同晶向布局与界面钝化工艺,并在iSolarCloud平台中集成基...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

基于开通延迟的SiC MOSFET实时结温测量及老化补偿方法

Turn-on Delay Based Real-Time Junction Temperature Measurement for SiC MOSFETs With Aging Compensation

Fei Yang · Shi Pu · Chi Xu · Bilal Akin · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年2月

在线结温监测对电力电子变换器的过温保护与状态监测至关重要。针对SiC MOSFET缺乏现场可靠性数据的问题,本文提出利用开通延迟时间作为温度敏感电参数(TSEP),并引入老化补偿机制,实现高精度的实时结温测量,提升功率器件在复杂工况下的运行可靠性。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有极高价值。随着公司组串式逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统向高功率密度、高效率方向演进,SiC器件的应用日益广泛。实时结温监测与老化补偿技术不仅能提升逆变器和PCS在极端环境下的过温保护精度,还能通过状态监测实现预测性维护,降低运维成本。建议研...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

碳化硅与硅功率MOSFET栅极电容特性再探

Gate Capacitance Characterization of Silicon Carbide and Silicon Power mosfets Revisited

Roger Stark · Alexander Tsibizov · Ivana Kovacevic-Badstuebner · Thomas Ziemann 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年9月

本文探讨了功率MOSFET的栅极电容-电压(C-V)特性对器件动态性能的影响。准确的C-V表征对于评估开关行为及校准紧凑模型中的集总等效电容至关重要,本文对此进行了全面分析。

解读: 该研究直接服务于阳光电源核心产品线的功率器件选型与驱动优化。随着公司在组串式逆变器和PowerTitan储能系统中大规模应用SiC MOSFET,精确的栅极电容建模对于优化驱动电路设计、降低开关损耗及提升电磁兼容性(EMC)至关重要。建议研发团队利用该研究方法,针对高频化趋势下的SiC器件进行更精细...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

一种用于串联SiC MOSFET的通用短路检测与保护方案

A Universal Short-Circuit Detection and Protection Scheme for Series-Connected SiC MOSFETs

Ye Zhou · Liang Xian · Xu Wang · Dan Yang · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年5月

在高功率变换器中,通过串联SiC MOSFET以提升电压等级并简化拓扑结构是一种有效方案。然而,除了正常开关过程中的动态电压均衡外,短路检测与保护同样至关重要。由于驱动时序偏差及器件间I-V特性的固有失配,串联器件的短路保护面临巨大挑战。本文提出了一种通用的短路检测与保护方案,旨在解决串联SiC MOSFET在故障工况下的可靠性问题。

解读: 该技术对阳光电源的高压组串式逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)具有重要参考价值。随着光伏与储能系统向更高直流侧电压(1500V及以上)演进,SiC器件的应用日益广泛。串联技术能有效降低对单管耐压等级的极端要求,但其带来的动态均压与短路保护难题是工程落地的瓶颈。该方案提出的保护机制可提...

拓扑与电路 功率模块 宽禁带半导体 光伏逆变器 ★ 5.0

用于零电压开关的功率MOSFET四边形电流模式并联技术

Quadrilateral Current Mode Paralleling of Power MOSFETs for Zero-Voltage Switching

Yanfeng Shen · Yunlei Jiang · Hui Zhao · Luke Shillaber 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年5月

本文提出了一种用于并联功率MOSFET的通用零电压开关(ZVS)方案。通过在并联MOSFET半桥的中点(交流端)引入非耦合或反向耦合的差模换流电感,并结合基于时间延迟的控制策略,产生流经这些电感的循环电流,从而实现ZVS。该方案有效提升了高功率密度变换器的开关效率。

解读: 该技术对于阳光电源的高功率密度逆变器及储能变流器(PCS)产品线具有极高的应用价值。随着PowerTitan等大功率储能系统及组串式逆变器向更高功率密度演进,单管MOSFET并联带来的开关损耗和均流问题日益突出。该四边形电流模式并联技术通过优化换流路径实现ZVS,可显著降低开关损耗,提升整机效率。建...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

快速开关条件下SiC功率MOSFET三种端间电容模型的精度研究

Accuracy of Three Interterminal Capacitance Models for SiC Power MOSFETs Under Fast Switching

Roger Stark · Alexander Tsibizov · Neha Nain · Ulrike Grossner 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年8月

本文全面分析了具有横向沟道的垂直结构碳化硅(SiC)功率MOSFET的非线性电压相关电容,重点研究了快速开关瞬态过程。通过二维TCAD仿真提取了依赖于栅源电压(Vgs)和漏源电压(Vds)的电容特性(Cgs, Cgd, Cds),并评估了三种不同模型在高速开关环境下的精度。

解读: SiC器件是阳光电源提升逆变器功率密度和转换效率的核心。随着组串式逆变器及PowerTitan储能系统向更高开关频率发展,精确的电容模型对于优化驱动电路设计、抑制电压尖峰及降低电磁干扰(EMI)至关重要。本文提出的建模方法可直接应用于阳光电源功率模块的选型与驱动参数优化,有助于提升系统在极端工况下的...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

基于组合TSEP建模的SiC MOSFET负载无关结温估计

Load-Independent Junction Temperature Estimation via Combined TSEPs Modeling for SiC MOSFETs

Meng Luo · Kun Tan · Xi Tang · Cungang Hu 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年1月

结温精确估计对SiC MOSFET的可靠性与安全运行至关重要。本文提出了一种基于温度敏感电参数(TSEPs)的负载无关结温估计方法,利用组合TSEP建模技术,实现了非侵入式、快速响应的在线热监测,有效提升了功率器件在复杂工况下的可靠性评估精度。

解读: 该技术对阳光电源的核心业务至关重要。随着公司在光伏逆变器(如组串式SG系列)和储能系统(如PowerTitan系列)中大规模应用SiC器件以提升功率密度和效率,结温的精确监测直接决定了系统的可靠性与寿命。该负载无关的TSEP估计方法可集成至iSolarCloud平台或逆变器控制固件中,实现对功率模块...

拓扑与电路 SiC器件 功率模块 储能变流器PCS ★ 5.0

多相并联桥臂功率损耗的最小化与平衡

Minimizing and Balancing Power Losses in Multiphase Paralleled Bridge Legs

Ziheng Xiao · Fei Deng · Zhigang Yao · Yi Tang · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年9月

为实现高电流能力,多颗碳化硅(SiC)MOSFET常被并联使用,但易导致开关电流不平衡及损耗增加。本文研究了在开关节点处配置小电感的多相并联桥臂的损耗最小化与平衡方法,并以16kW四相双向Buck-Boost变换器为例进行了验证。

解读: 该技术对阳光电源的PowerTitan及ST系列储能PCS产品具有极高的应用价值。随着储能系统向高功率密度和高效率演进,SiC器件的并联应用已成为主流。通过优化多相并联桥臂的电流平衡与损耗控制,可显著提升PCS在部分负载下的转换效率,降低温升,从而提升产品可靠性。建议研发团队在下一代大功率储能变流器...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 故障诊断 ★ 5.0

SiC MOSFET导通电压测量电路中的集成短路保护方法

Integrated Short-Circuit Protection Method in On-State Voltage Measurement Circuit for SiC MOSFETs

Jiahong Liu · Xing Wei · Bo Yao · Yichi Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年5月

本文提出了一种SiC MOSFET状态监测与短路保护的集成方案。通过改进导通电压测量电路,将状态监测与短路保护功能整合在单一电路中,有效提升了系统的紧凑性,并实现了对SiC器件的高效保护与健康管理。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线至关重要。随着公司组串式逆变器及PowerTitan储能系统向高功率密度、高效率方向演进,SiC MOSFET的应用日益广泛。该集成保护方案能显著提升功率模块的可靠性,缩短短路故障响应时间,降低驱动电路复杂度。建议在下一代高压储能PCS及组串式逆变器研发中引入该集成监测技...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 宽禁带半导体 ★ 5.0

用于改善并联大功率SiC MOSFET模块电流共享性能的有源栅极驱动器

Active Gate Driver for Improving Current Sharing Performance of Paralleled High-Power SiC MOSFET Modules

Yang Wen · Yuan Yang · Yong Gao · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年2月

SiC MOSFET凭借高开关速度和低损耗优势,广泛应用于高功率密度电力电子系统。由于单模块电流容量有限,多模块并联是实现高功率输出的关键,但电流不均流问题是主要挑战。本文提出一种有源栅极驱动技术,旨在优化并联模块间的电流共享性能,提升系统整体可靠性与效率。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有极高的应用价值。在PowerTitan系列液冷储能系统及大功率组串式光伏逆变器中,为了达到兆瓦级功率输出,SiC模块并联技术已成为主流。电流不均流会导致局部过热,降低功率器件寿命。通过引入有源栅极驱动(Active Gate Driver),可以动态调节开关过程,有效...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

基于结电容的SiC MOSFET栅氧化层退化温度无关监测方法

Temperature-Independent Gate-Oxide Degradation Monitoring of SiC MOSFETs Based on Junction Capacitances

Masoud Farhadi · Fei Yang · Shi Pu · Bhanu Teja Vankayalapati 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年7月

栅氧化层退化是SiC MOSFET的主要可靠性挑战。现有监测方法多受温度影响,难以消除误差。本文提出了一种基于结电容的监测方法,实现了对栅氧化层退化的温度无关监测,有助于预防功率变换器的突发故障。

解读: SiC MOSFET作为阳光电源组串式逆变器、PowerTitan储能变流器及高频充电桩的核心功率器件,其可靠性直接决定了产品的全生命周期运维成本。该研究提出的温度无关监测技术,能够有效解决复杂工况下器件老化评估不准的痛点。建议将此技术集成至iSolarCloud智能运维平台,通过实时监测关键结电容...

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